*类是产品的性能参数不达标，生产的产品不符合使用要求；

　　第二类是潜在的缺陷，这类缺陷不能用一般的测试手段发现，而需要在使用过程中逐渐地被暴露，如硅片表面污染、组织不稳定、焊接空洞、芯片和管壳热阻匹配不良等等。

　　一般这种缺陷需要在元器件工作于额定功率和正常工作温度下运行一千个小时左右才能全部被激活(暴露)。显然，对每只元器件测试一千个小时是不现实的，所以需要对其施加热应力和偏压，例如进行高温功率应力试验，来加速这类缺陷的提早暴露。也就是给电子产品施加热的、电的、机械的或多种综合的外部应力，模拟严酷工作环境，消除加工应力和残余溶剂等物质，使潜伏故障提前出现，尽快使产品通过失效浴盆特性初期阶段，进入高可靠的稳定期。

　　通过老化房的高温老化可以使元器件的缺陷、焊接和装配等生产过程中存在的隐患提前暴露，老化后再进行电气参数测量，筛选剔除失效或变值的元器件，尽可能把产品的早期失效消灭在正常使用之用，从面保证出厂的产品能经得起时间的考验。

　　老化房是一种专业的试验设备，在容量及规格的设计必须满足当前各类产品的需求下，也必须保证自身工作的稳定性。老化房是航空、汽车、家电、科研等领域*的测试设备，用于测试和确定电工、电子及其他产品及材料进行高温的温度环境变化后的参数及性能，适用于对大型零部件，整机进行气候模拟试验。

　　老化房可以针对高性能电子产品仿真出一种高温、恶劣环境测试的设备，是提高产品稳定性、可靠性的重要试验设备、是各生产企业提高产品质量和竞争性的重要生产流程，其温度控制准确，精度高。